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設備情報
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検査設備紹介
  • 蛍光X線膜厚計
    蛍光X線膜厚計
    仕様 FT150H(日立ハイテックサイエンス社製)、上面垂直照射方式
    用途 金属材料上のめっき厚測定、簡易スペクトル分析(定性分析)、微小部の薄膜めっきを高精度で測定
  • 蛍光X線分析装置
    蛍光X線分析装置
    仕様 SEA1200VX(SIIナノテクノロジー社製)
    用途 製品中に含有される元素の測定
  • 微小面分光色差計
    微小面分光色差計
    仕様 VAA-400(日本電色工業社製)、全波長同時補償方式
    用途 めっき面の光沢度測定、分光反射率・分光透過率の測定
  • 微小面分光色差計
    画像測定器
    仕様 QVH1-X302P1L-C(ミツトヨ社製)、透過・反射式
    用途 XYZ法測定、めっきエリア自動測定、カット寸法自動測定
  • 微小面分光色差計
    ソルダーチェッカー
    仕様 SAT-5100(レスカ社製)、浮力・表面張力測定
    用途 半田濡れ性の評価
  • 微小面分光色差計
    走査型電子顕微鏡・エネルギー分散型X線分析装置
    仕様 S-3400N(日立ハイテクノロジーズ社製)、EMAX ENERGY EX-250(堀場製作所社製)
    用途 めっき粒子の観察や不具合品の解析、低倍率~高倍率での観察が可能、EDXで元素分析が可能
  • 微小面分光色差計
    ICP発光分析装置
    仕様 SPS3500(日立ハイテクノロジーズ社製)
    用途 めっき液中の金属濃度の測定や不純物の測定、排水中の金属濃度の測定
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