連なったロール状製品をめっき加工を施す方法です。
連続生産するので安定した品質が低コストで得られ、ラインの設計によって様々な工程が可能となることが利点となっています。
製品形状にもよりますが、ストライプめっきやリングめっきも可能です。
| 形状 | リール状製品 ( 幅：15～65 mm、厚み：0.15～0.5 mm )※ 材質、製品形状によってこの値は変動します。 |
|---|---|
| 材質 | Fe材(42材など)、Cu材 |
| Agめっき | 部分Agめっき（下地めっき=Cu）、全面Agめっき（下地めっき=Cu、Ni） |
|---|---|
| Cuめっき | 全面Cuめっき |
| Niめっき | 全面Niめっき |
| 形状 | フレーム状製品 ( 幅：15～65 mm、厚み：0.15～0.5 mm )※ 材質、製品形状によってこの値は変動します。 |
|---|---|
| 材質 | Fe材(SUS材、42材など)、Cu材 |
| Agめっき | スポットAgめっき（下地めっき=Cu） |
|---|---|
| Auめっき | スポットAuめっき |
| 形状 | 容器に入る形状、隙間を通過しない大きさ※ 極端に変形する製品を除く |
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| 材質 | Fe材(SUS材、42材など)、Cu材 |
| Agめっき | 全面Agめっき（下地めっき=Cu） |
|---|---|
| Auめっき | 全面Auめっき（下地めっき=Ni） |
| Snめっき | 全面Snめっき（下地めっき=Ni、Cu） |
| 仕様 | FT110A(㈱日立ハイテクアナリシス社製)、 上面垂直照射方式 |
|---|---|
| 用途 | 金属材料上のめっき厚測定、簡易スペクトル分析(定性分析)。 2層以下のめっき厚での測定対応可能 |
| 仕様 | FT150h(㈱日立ハイテクアナリシス社製)、 上面垂直照射方式 |
|---|---|
| 用途 | 金属材料上のめっき厚測定、簡易スペクトル分析(定性分析)、微小部の薄膜めっきを高精度で 測定。 3層以上の多層めっき厚での測定対応可能。 |
| 仕様 | EA-1400(㈱日本ハイテクアナリシス社製)、 下面垂直照射方式 |
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| 用途 | 製品中に含有される元素の測定。 |
| 仕様 | QV-X404T1C-E(㈱ミツトヨ社製)、 非接触式三次元画像測定機 |
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| 用途 | XYZ法測定、めっきエリア自動測定、カット寸法測定 |
| 仕様 | IM-7000(㈱キーエンス社製) |
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| 用途 | 瞬時に高精度な画像寸法を自動測定 |
| 仕様 | HM-1200(㈱キーエンス社製) |
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| 用途 | 高精度な高さ・平面度測定 |
| 仕様 | VSS-7700(日本電色工業㈱社製) |
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| 用途 | めっき表面の観察、粗さ測定、低倍率～高倍率での観察が可能 |
| 仕様 | MU-501U(㈱ニコン社製) |
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| 用途 | 厚み・高さの測定 |
| 仕様 | クリーントンネル型クリーンルーム (株式会社 大氣社 製) 洗浄度クラス Class10 (ISO14644－1,粒径0.1μ以上が10個以下) |
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| 用途 | 半導体及び部品、精密機器の洗浄、外観検査、梱包・出荷 |